TY  - 北京邮电大学学报
A1  - 周怡琳, 杨璐, 鲁文睿
T1  - 尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索
Y1  - 2020-06-24 00:00:00.0
JF  - 北京邮电大学学报
JO  - 北京邮电大学学报
SP  - 11
EP  - 18,31
VL  - 43
IS  - 3
UR  - {https://journal.bupt.edu.cn/CN/10.13190/j.jbupt.2019-170}
N1  - 10.13190/j.jbupt.2019-170
ER  -